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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	品牌所有品牌 TIME北京時(shí)代集團(tuán) 德國(guó)德圖TESTO 國(guó)產(chǎn) 蘭泰星晟檢測(cè) 美國(guó)博士能BUSHNELL 南通友聯(lián) 英國(guó)易高日本小野瑞士徠卡LEICA 日本理音RION 臺(tái)灣衡欣AZ 德國(guó)尼克斯德國(guó)KK 法國(guó)CA 日本HIOKI 臺(tái)灣PROVA 德國(guó)EPK 美國(guó)GE 武漢中科美國(guó)達(dá)高特德國(guó)馬爾	主要技術(shù)指標(biāo)	價(jià)格
	激光測(cè)距儀 DISTO DXT	瑞士徠卡LEICA	測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) ± 1,5 mm 測(cè)量范圍 0.05 m – 70 m	洽詢
	手持式激光測(cè)距儀 DISTO D8	瑞士徠卡LEICA	測(cè)量范圍 : 0.05 m ～ 200 m ; 測(cè)量精度 ( 典型 ) : ± 1.0 mm / ± 0.04 in	洽詢
	激光測(cè)距儀 YARDAGE PRO500	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)量精確度±1(碼/米）一般物件之測(cè)量最遠(yuǎn)距離400m	洽詢
	激光測(cè)距儀 Laser800S	國(guó)產(chǎn)	測(cè)量距離:10-730m (11-800yd)	洽詢
	激光測(cè)距儀 Laser600	國(guó)產(chǎn)	測(cè)量距離:10-560m (11-600yd)	洽詢
	激光測(cè)距儀 Pro sport 450	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)距范圍 5-800碼（約5-730米）	洽詢
	高爾夫?qū)Ｓ眉す鉁y(cè)距望遠(yuǎn)鏡 PINSEEKER W_Slope 1500	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)角度范圍 +/-20° 測(cè)距范圍 5-1500碼（約5-1370米）	洽詢
	激光測(cè)距儀 PRO Tour V2	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)距范圍 5-1000碼（約5-900米）觀察放大倍數(shù) 5倍	洽詢
	霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀 FH7400	德國(guó)EPK	測(cè)量厚度高達(dá)10mm	洽詢
	麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 MIKROTEST NI100	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍：0-100um	洽詢
	涂層測(cè)厚儀 MiniTest 720	德國(guó)EPK	探頭類型:內(nèi)置	洽詢
	涂層測(cè)厚儀 MiniTest 730	德國(guó)EPK	探頭類型：外置	洽詢
	超聲波涂層測(cè)厚儀 QuintSonic 7	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍：300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層)	洽詢
	STODA涂層測(cè)厚儀 STD2200	國(guó)產(chǎn)	測(cè)量范圍：0～1250μm	洽詢
	涂鍍層測(cè)厚儀 QNix7500	德國(guó)尼克斯	顯示精度 1μm ;0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm	洽詢
	涂鍍層測(cè)厚儀 QNix keyless	德國(guó)尼克斯	測(cè)量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%	洽詢
	涂（鍍）層測(cè)厚儀 MC-2000A	國(guó)產(chǎn)	MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um MC-2000 D 型測(cè)量范圍：10-9000um	洽詢
	鐵基涂層測(cè)厚儀 CM8820	蘭泰	分辨率: 0.1 um (小于100um)<br> 1 um (大于100um)<br> 最小測(cè)量面積：6mm<br> 最薄基底：0.3mm<br>	洽詢
	數(shù)字式涂層測(cè)厚儀 TT260	TIME北京時(shí)代集團(tuán)	使用環(huán)境溫度:0～40℃	洽詢
	SPC涂層分析儀 Elcometer 365	英國(guó)易高	探頭模塊的精確度為1%	洽詢

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